應(yīng)用低溫試驗箱時可根據(jù)GB 2424.1—《電工電子產(chǎn)品基本試驗環(huán)境試驗規(guī)程：高溫低溫試驗導(dǎo)則》的指導(dǎo)選定下列參數(shù)：a.試驗箱內(nèi)溫度變化的速率；b.試驗樣品放入試驗箱的時間；c.試驗樣品在試驗條件下曝露試驗開始時間；d.試驗樣品通電或負載的時間。 應(yīng)用低溫試驗箱標準應(yīng)對低溫試驗方法給出下列適用的細節(jié)：a.預(yù)處理；b.初始檢測；c.安裝或支承的細節(jié)；d.條件試驗期間試驗樣品（包括冷卻系統(tǒng)）的狀況；e.嚴酷程度（溫度和試驗持續(xù)時間）；f.條件試驗期間的測量和（或）負載；g.恢復(fù)（如不是在標準條件下恢復(fù)）；h.最后檢測；i:供需雙方同意的對低溫試驗箱試驗程度的任何更改。
